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菲希爾XDL230系列測厚儀射線源信息
點擊次數(shù):87 更新時間:2025-04-23

德國菲希爾測厚儀 XDL230,熒光射線測厚儀,原理是基于X射線穿透材料時強度的衰減與被測物厚度之間的定量關(guān)系,通過測量衰減后的射線強度計算厚度值?。

因為是非接觸式的,所以X射線測厚儀適用于高速生產(chǎn)線(如軋鋼、薄膜制造)的實時監(jiān)測。

技術(shù)優(yōu)勢

?高適應(yīng)性?:通過調(diào)整X射線能量(如改變管電壓)可匹配不同材質(zhì)和厚度的測量需求。

?實時反饋?:與控制系統(tǒng)聯(lián)動,實現(xiàn)生產(chǎn)過程中的自動厚度調(diào)整。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板

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